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改善太阳能电池的测试:加快开发和生产的关键

下载次数:3136 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:546.72 K  

为了提高太阳能电池效率以及匹配分立电池用于电池板的构建,太阳能电池的开发和生产需要测试大量的材料和器件。因而,十分有必要进行快速测试,但是快速测试要求了解电池的实际结构和电池测量的隐含义。

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融合LXI和脚本的优点

下载次数:151 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:430.54 K  

通常,早期可编程仪器的能力和容量都非常有限,这使可编程性的使用局限于相对小而简单的应用。较大或较复杂的应用需要使用单独计算机或控制器通过通信接口(常常是GPIB)控制可编程仪器。计算技术和编程语言的进步以及嵌入式计算容量成本的稳定下降带来了新一代可编程仪器。这些仪器的一个关键进步是采用脚本语言提供可编程性。本文详细介绍了脚本以及如何利用脚本简化测试与测量并且提高速度。

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利用正向压降测量半导体结温

下载次数:164 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:637.03 K  

从集成电路中数以百万计晶体管到制造高亮度LED的大面积复合结,半导体结可能由于不断产生的热量而在早期发生故障。当特征尺寸缩小并且当所需电流增大的情况下,这会成为非常严重的问题,甚至正常操作也可能聚积热量,使结温升高。温度上升会导致半导体结内部的故障增加,进而使性能降低、使用寿命缩短。本文介绍了一种用常规测试和测量仪器测量结温的简单方法,并且如何用测量的结温监视指定器件的工作条件。

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WLR测试中的新挑战

下载次数:65 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:839.81 K  

随着推出的化合物材料数量不断增多,与可靠性相关的挑战继续增大。这些新的挑战意味着可靠性测试的难度正逐渐超越当前测量硬件的功能。从事可靠性和质保工作的工程技术人员和研究者们正面临着现有仪器和未满足测试需求之间日益增大的性能差距。

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如何选择合适的总线

下载次数:220 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:656.46 K  

数据采集和测试与测量系统的性能对选择合适仪器总线的依赖度与采用合适硬件的依赖度一样强。面对当前存在的各式总线,有时候我们很难确定某种应用应该采用哪种总线。本文介绍了一些最常用的仪器总线以及最有可能发挥这些总线性能的应用。

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紧跟市场变化和需求的智能测试仪器

下载次数:66 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:517.30 K  

随着电子器件复杂性的增长和对新材料的需求,测试操作的数量和复杂性也在增大。研究人员和研发工程技术人员面对的是新型电子器件上越来越多的管脚数,并且要对可能会用于这些器件的各种新材料进行评估,新一代“智能”仪器正帮助从事前沿技术研究的人们降低测试成本,同时加快产品研发速度。

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Datasheet :2400系列数字源表系列

下载次数:812 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:903.56 K  

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Datasheet :2420数字源表用于光电I-V测试

下载次数:2060 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:621.71 K  

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Datasheet :2600A系列数字源表

下载次数:56 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:1.75 Mb  

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应用笔记:偏置温度不稳定性分析的On-The-Fly Vth测量(英文)

下载次数:20 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:209.79 K  

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应用笔记:用2600系列数字源表进行IDDQ测试和待机电流测试(英文)

下载次数:63 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:243.64 K  

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应用笔记:用2600系列数字源表进行高亮度、可见光LED的生产测试(英文)

下载次数:35 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:274.00 K  

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应用笔记:用2600系列数字源表进行二极管生产测试(英文)

下载次数:28 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:184.39 K  

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应用笔记:用2602数字源表对激光二极管模块和VCSEL进行高吞吐率DC生产测试(英文)

下载次数:39 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:282.56 K  

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应用笔记:用2602数字源表创建可扩缩、多引脚、多功能IC测试系统(英文)

下载次数:58 次   |    更新时间: 2010-03-22  |  大小:302.99 K  

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精彩推荐

吉时利2010年2月宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块,进一步丰富了其4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的强大测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流/电压测量功能,实现了业界最宽的电压、电流和上升/下降/脉冲时间动态量程,大大提高了系统对新材料、器件和工艺进行特征分析的能力。同样重要的是,利用4225-PMU可以像进行直流测量那样,轻松实现超快的I-V源和测量操作。其很宽的可编程源与测量量程、脉宽和上升时间使得它非常适合于既需要超快电压输出又需要同步测量的应用——从纳米CMOS到闪存。
与之前需要多达三种不同测试台才能对器件、材料或工艺进行充分特征分析的方案不同的是,4225-PMU凭借其很宽的动态量程,只需一套仪器即可完成对材料、器件和工艺的全方位特征分析。目前,实验室配置一套灵活的系统就可以处理所有三类测量操作:精密直流I-V测试(4200-SMU)、交流阻抗(4210-CVU C-V仪器)和超快I-V或瞬态I-V测试(4225-PMU)。
每个4225-PMU模块可以配置多达两个可选的4225-RPM远程放大器/开关,从而提供了四种额外的低电流量程。它们还有助于减少线电容效应,并且支持在4225-PMU、4210-CVU和机架中安装的其他SMU之间自动切换。另外还有可选的4220-PGU脉冲发生器,它是仅仅支持电压源功能的4225-PMU替代品。 更多内容...

在线研讨会

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微弱电流的精确测量及实例解析

时间:2010-03-24  10:00--12:00

简介:本次研讨会我们将和您一起探讨微弱电流(nA~fA)的测量方法。包括,如何正确选择测量仪器,如何量化微弱噪声源以及减少电流噪声的实践经验。这些小电流的测量要素对半导体参数测试,材料特性研究,纳米科技测试以及光学特性分析至关重要。我们将通过实际案例为你分析、介绍。         

光伏测量:太阳能电池的电气特性测试

时间:2009-05-19  10:00--12:00

简介:本期在线研讨会将简述太阳能电池的电气测量,将集中讨论太阳光电池的属性和如何进行IV参数的测试,以及对在选择太阳能半导体材料时,如何用IV/CV的方法来研究材料的特性。         

Keithley带您了解霍尔效应测试基础

时间:2009-04-08  10:00--12:00

简介:本次研讨会将以霍尔效应的测量为主题,介绍它们与半导体材料和器件特征分析的关系。 霍尔效应测量系统通常用于测量半导体参数,例如载流子迁移率和载流子浓度、霍尔系数和导电率以及导电型。